IC/BGAテスター
Focus-2005

弊社のインサーキットテスター技術を使用した、以下の用途に最適なIC/BGAテスターです。
1.半導体製造メーカ一・品質保証部門でIC/LSの不良解析を行う前に、フィールドから戻ってきた不良デバイス(おもに静電破壊)を選別するためのスクリーニング・チェッカーとして。
2.半導体取扱企業(商社・メーカー等)が行う高価なIC/LSIテスターによる受入検査前に、粗悪なデバイスを選別するためのスクリーニング・チェッカーとして。
3.半導体センサーデバイスのショート・オープンチェッカーとして。
定電圧印加電流測定と定電流印加電圧測定の2種類の測定が可能です。 測り方はデバイス単体でチェックします。テスト治具も製作可能です。 ソケットボードの交換で多種のデバイスに対応可能です。
基準値は良品デバイスからの吸い上げ方式の為、複雑なテストプログラム作成は不要です。 128ピン/枚のマルチプレクサボードを増設する事で最大2,048ピンまで拡張できます。

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